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RAMCHECK LX DDR4 PRO/DDR3具有一個生動的高對比度大顯示屏,
大小有2.7英寸X 1.43英寸(69毫米X 36.5毫米)。在任何角度都容易看到。
請看這裡是RAMCHECK LX DDR4 PRO/DDR3打開後的啟動畫面。
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DDR4系列適配器使用各種測試頭。快速按下ESC按鈕幾次,此屏幕顯示測試頭配置和適配器溫度。
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Basic
Test
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在“BASIC TEST”(基本測試)屏幕顯示大小、速度、
電壓、測試模式、模塊庫和CAS延遲。
本例顯示在1066MHz下使用設為該頻率的缺省值CL=6的CAS延遲自動設置所進行的
測試。
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此示例顯示測試DDR4 2GBx72 ECC已註冊模塊。模塊的結構是“2Rx4”。
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成 功的測試階段以清楚的“OK”消息結束,
並使用清晰的音調。重要參數都顯示在這個屏幕上,後接詳細的測試結果。
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Test Results
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每 個測試階段後,包含測試結果的匯總屏幕提供很多信息。
所有的匯總屏幕也被加入到測試日誌中。
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在“TEST LOG”(測試日誌) 收集並記錄內存設備進行所有的測試階段時的所有中間測試結果。
測試日誌一直保留到您開始新 的測試。 測試日誌可被上傳到PC,
經由USB接口進行打印。您還可以保存文件。
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Extensive Test
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在“EXTENSIVE
TEST”(全面測試):
進行下面一組全面測試來確定內存的質量。 |
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“VOLTAGE
CYCLING”(電壓循環)測試:
在建議VDD範圍內各種電壓等級下進行內存測試。 |
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“TEST
MODE”(測試模式):
識別設備的各種運行參數,包括不同的突髮長度和CAS延遲設置。
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“VOLTAGE
BOUNCE TEST”(電壓發彈測試):
檢查讀寫之間電壓變化過程中的數據保留。 |
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“MARCH
UP/DOWN TEST”(上/下遍歷測試):
檢測相鄰單元的干擾問題。
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“CHIP-HEAT
MODE”(芯片高溫模式):
在更高工作溫度下測試 |
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“AUTO-LOOP
TEST”(自動循環測試):
以無終點的模式改變運行內存。對於老化測試來說非常好。 |
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RAMCHECK
LX提供高級設置功能。
可以如這裡所示的那樣以圖形方式選擇某些定時參數。 |
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按
一下按鈕就可以動態地“即時”改變測試參數。 |
SPD Editor
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設
備的SPD可以在RAMCHECK LX上方便地查看、編輯和編程。
您還可以在PC通訊程序中使用我們先進的SPD功能。 |